Gara per Adquisición, instalación y puesta a punto de un microscopio de fuerza atómica con cabezal de escaneo rápido que incluirá como mínimo los siguientes componentes: • controlador digital con pc dedicado. • cabezal de afm con configuración "scanning by probe or tip scanning" que permitirá su integración con un microscopio óptico invertido modelo nikon eclipse. • sistema de aislamiento vibracional y acústico. • compatibilidad con equipos existentes.